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膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列


膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

光譜儀(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)

提供豐富選配套件以及客制化光纖,

可依據安裝現場需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環境下的最佳即時測量系統

 

 

 

 

 

 

 

 

分光光譜儀種類

  • MCPD-9800:高動態范圍分光

  • MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀

  • MCPD-7700:高感度分光

膜厚測量

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜

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膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

 半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

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影印機感光鼓膜厚度量測

半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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LB膜測量

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蒸餾膜測量

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多點膜厚測量

  • 半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

  • 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

  • 塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)

  • 樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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