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非接觸式光學膜厚儀


非接觸式光學膜厚儀本設備操作簡單,放置樣品即可測量的。一步到位。

縮短檢查工程,無標準曲線,精度高,分辨率高,輕松測量樣品的絕對厚度。

光學方式為大冢電子獨創,不僅外形小巧,無論透明?粗糙還是易變形的樣品,都可以實現非接觸式的高精度測量。

 

 

 

 

 

 

產品信息

特長

  • 非接觸式測量不透明、粗糙,易變形的樣品

  • 反復性?再現性高

  • 無標準曲線也可知道絕對厚度

  • 測量徑很小,不受斑點的影響

  • 樣品位置無需調整,放進去即可。

  • 穩定性高,不會產生誤差,所以誰都能操作。

  • 光學方式原理所以安全

式樣

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構成圖?原理

構成圖

任何人都會測量

1STEP-01.jpg

1STEP-02.jpg

原理

將光分別照射樣品上下部
測量距離基準面的距離。
d=dall-(d1+d2)
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比較測量方法

樣品例子和測量方法的比較

 非接觸光學膜厚儀接觸式膜厚儀X線式膜厚儀変位計
樣品凝膠片×
不織布××
金屬板
樹脂
多孔質×
陶瓷×
紙?木×
測量

測量時間○ 高速
非接觸測量○ 非接觸×
前處理○ 不要×

測量案例

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ncftm4-2.gif

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