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低相位差高速檢查設備 RE-200


低相位差高速檢查設備 RE-200光軸的高精度管理! 3σ≦0.02°
低相位差測量

 

 

 

 

 

 

 

 

產品信息

特 點

? 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當于世界最快速的0.1秒以下來處理)
? 無驅動部,重復再現性高
? 設置的測量項目少,測量簡單
? 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
(需要option的自動旋轉傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
 (本系統屬特注。)

測量項目

? 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
? 主軸方位角(θ[deg.])
? 橢圓率(ε)?方位角(γ)
? 三次元折射率(NxNyNz)

用 途

? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質材料(玻璃有變形,歪曲等)

原 理

? 什么是RE-200
? RE-200是光子結晶素子(偏光素子)、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉的機構,系統整體上是屬于小型構造,長時間使用也能維持穩定的性能。

仕 樣

型號

RE series

樣品尺寸

最小10×10mm ~最大100×100mm

測量波長

550nm (標準仕樣)※1

相位差測量范圍

約0nm ~約1μm

軸檢出重復精度

0.05°(at 3σ) ※2

檢出器

偏光計測模塊

測量光斑直徑

2.2mm×2.2mm

光源

100W 鹵素燈或 LED光源

本體?重量

300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

 Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體(旋轉:180°, 傾斜:±50°)
? 動旋轉傾斜治具

 

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